@misc{oai:uec.repo.nii.ac.jp:00001695,
 author = {横川, 慎二 and Yokogawa, Shinji},
 month = {2016-09-21},
 note = {2007},
 title = {LSI微細Cu配線におけるエレクトロマイグレーション信頼性に関する研究},
 year = {},
 yomi = {ヨコガワ, シンジ}
}